對不同材料在不同條件下進(jìn)行測量，校準試塊的材料越接近被測材料，測量就越理想的參考試塊將是一組被測材料的不同厚度的試塊，試塊能提供儀器補償校正因素(如材料的微觀(guān)結構，熱處理條件，粒子方向，表面粗糙等)。為了滿(mǎn)足大精度測量的要求，一套參考試塊將是在大部分情況下，只要使用一個(gè)參考試塊就能得到令人滿(mǎn)意的測量精度，這個(gè)試塊應具有與被測材料相同的材質(zhì)和相近的厚度.取均勻被測材料用千分尺測里后就能作為一個(gè)試塊。

  對于薄材料，在它的厚度接近于探頭測星下限時(shí)，可用試塊來(lái)確定準確的低限。不要測量低于下限厚度的材料.如果一個(gè)厚度范圍是可以估計的，那么試塊的厚度應選上限值. 當被測材料較厚時(shí)，特別是內部結構較為復雜的合金等，應在一組試塊中選擇一個(gè)接近被測材料的，以便于掌握校準。

  大部分鍛件和鑄件的內部結構具有方向性，在不同的方向上，其聲速將會(huì )有少量的變化，為了解決這個(gè)問(wèn)題，試塊應具有與被測材料相同方向的內部結構，聲波在試塊中的傳播方向也要與在被測材料中的方向相同。

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