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涂層測厚儀影響因素問(wèn)與答(二)
來(lái)源:時(shí)代集團 發(fā)布日期:2019-09-24 15:07:25
3.如何系統校準?
校準的方法、種類(lèi),這是新用戶(hù)經(jīng)常會(huì )遇到的問(wèn)題。系統校準、零點(diǎn)校準還有兩點(diǎn)校準其實(shí)都已經(jīng)在說(shuō)明書(shū)上寫(xiě)到了,用戶(hù)只需仔細閱讀就可以了。需要注意的是:在校準鐵基時(shí)最好是多測量幾次以防止錯誤操作;系統校準的樣片要按照從小到大的順序進(jìn)行。如果個(gè)別標準片丟失可以找與其數值相近的樣片代替。
4.有時(shí)開(kāi)機出現干擾是什么原因?
開(kāi)機后儀器屏幕出現測量狀態(tài)箭頭不能再次進(jìn)行測量,就說(shuō)明儀器受到了干擾。主要有兩個(gè)原因:
(1)開(kāi)機時(shí)探頭離鐵基太近,因為鐵基磁場(chǎng)的影響而受到了干擾。
(2)沒(méi)插好探頭或者探頭線(xiàn)有損傷。
涂層和覆層測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必備手段。為使產(chǎn)品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對涂層覆層厚度測量有了明確的要求和規定。
涂層厚度的測量方法主要有:楔切法涂層測量,光截法涂層測量,電解法涂層測量,厚度差測量法,稱(chēng)重法涂層測量,χ射線(xiàn)熒光法涂層測量,β射線(xiàn)反向散射法涂層測量,電容法涂層測量,磁性測量法和渦流測量法測量厚度等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。隨著(zhù)科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步。
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